Назва статті | Study of the I-V characteristics of nanostructured Pd films on a Si substrate after vacuum annealing |
---|---|
Посилання | Tomilin S. V., Yanovsky A. S., Tomilina O. A., Mikaelyan . R. Study of the I-V characteristics of nanostructured Pd films on a Si substrate after vacuum annealing. Semiconductors . 2013. Т. 47. № 6. C. 782-786 . URL: http://apps.webofknowledge.com/InboundService.do;jsessionid=A3A7B9C04EAD3C4756DD396BBB78FF0D?customersID=RID&mode=FullRecord&IsProductCode=Yes&product=WOS&Init=Yes&Func=Frame&DestFail=http%3A%2F%2Fwww.webofknowledge.com&action=retrieve&SrcApp=RID&SrcAuth=. |
Електронне посилання | http://apps.webofknowledge.com/InboundService.do;jsessionid=A3A7B9C04EAD3C4756DD396BBB78FF0D?customersID=RID&mode=FullRecord&IsProductCode=Yes&product=WOS&Init=Yes&Func=Frame&DestFail=http%3A%2F%2Fwww.webofknowledge.com&action=retrieve&SrcApp=RID&SrcAuth= |
Автори |
|
Назва журналу (збірника) | Semiconductors |
Статус журнала (збірника) | Закордонний |
Рік видання | 2013 |
Том | 47 |
Номер (випуск) | 6 |
Номери сторінок | 782-786 |
Кількість друкованих аркушів | 0.20 |
Галузь науки | Природничо-математичні і технічні |
Мова видання | Англійська |
Категорія | Публікація в періодичному виданні Категорія WOS, |